Model- en risicogebaseerd testen voeren boventoon op Nederlandse Testdag

Share/Save/Bookmark

Stoelinga, Mariëlle (2011) Model- en risicogebaseerd testen voeren boventoon op Nederlandse Testdag. Bits en chips, 113 (15). pp. 14-15. ISSN 1879-6443

[img]PDF
Restricted to UT campus only
: Request a copy
501Kb
Abstract:Met testen valt veel winst te behalen, maar in de praktijk is het vaak een kostbaar, lastig en ondergewaardeerd proces. Dit geldt des te meer voor snel veranderende, dynamisch configureerbare software. Evolvability was dan ook het onderwerp van de zeventiende Nederlandse Testdag. Mariëlle Stoelinga beschrijft de hoogtepunten die onlangs de revue passeerden tijdens dit congres op de Universiteit Twente.
Item Type:Article
Faculty:
Electrical Engineering, Mathematics and Computer Science (EEMCS)
Research Group:
Link to this item:http://purl.utwente.nl/publications/79574
Publisher URL:http://www.bits-chips.nl/
Export this item as:BibTeX
EndNote
HTML Citation
Reference Manager

 

Repository Staff Only: item control page