Back to University of Twente portal
Model- en risicogebaseerd testen voeren boventoon op Nederlandse Testdag
Stoelinga, Mariëlle (2011) Model- en risicogebaseerd testen voeren boventoon op Nederlandse Testdag. Bits en chips, 113 (15). pp. 14-15. ISSN 1879-6443
![[img]](http://doc.utwente.nl/style/images/fileicons/application_pdf.png) | PDF Restricted to UT campus only: Request a copy 501Kb |
| Abstract: | Met testen valt veel winst te behalen, maar in de praktijk is het vaak een kostbaar, lastig en ondergewaardeerd proces. Dit geldt des te meer voor snel veranderende, dynamisch configureerbare software. Evolvability was dan ook het onderwerp van de zeventiende Nederlandse Testdag. Mariëlle Stoelinga beschrijft de hoogtepunten die onlangs de revue passeerden tijdens dit congres op de Universiteit Twente. |
| Item Type: | Article |
| Faculty: | Electrical Engineering, Mathematics and Computer Science (EEMCS) |
| Research Group: | |
| Link to this item: | http://purl.utwente.nl/publications/79574 |
| Publisher URL: | http://www.bits-chips.nl/ |
| Export this item as: | BibTeX EndNote HTML Citation Reference Manager |
Show download statistics for this publication
Show download statistics for this publicationRepository Staff Only: item control page