Probe voor magnetische kracht microscopie, en werkwijze voor het vervaardigen van een dergelijke probe

Share/Save/Bookmark

Phillips, Gavin Nicholas and Abelmann, Leon and Lodder, Jacobus Christiaan (2003) Probe voor magnetische kracht microscopie, en werkwijze voor het vervaardigen van een dergelijke probe. Patent.

open access
[img]
Preview
PDF
294kB
Abstract:De uitvinding heeft betrekking op een werkwijze voor het vervaardigen van een probe voor magnetische kracht microscopie. De tip wordt gevormd in een bewerking met een gefocusseerde ionen-straal.
Item Type:Patent
Faculty:
Electrical Engineering, Mathematics and Computer Science (EEMCS)
Research Group:
Link to this item:http://purl.utwente.nl/publications/64561
Export this item as:BibTeX
EndNote
HTML Citation
Reference Manager

 

Repository Staff Only: item control page